西奥机电CELTEC非晶纳米晶合金带材叠片系数测试测厚仪FTT-02

非晶纳米晶合金带材叠片系数测试仪FTT-01

非晶合金是由超急冷凝固，合金凝固时原子来不及有序排列结晶，得到的固态合金是长程无序结构，没有晶态合金的晶粒、晶界存在。这种非晶合金具有许多独特的性能，由于它的性能优异、工艺简单，从80年代开始成为国内外材料科学界的研究开发重点。铁基非晶合金是由80%Fe及20%Si,B类金属元素所构成,它具有高饱和磁感应强度（1.56T），磁导率、激磁电流和铁损等各方面都优于硅钢片的特点。

非晶带材的应用：

逆变器用电抗器、变压器铁芯；

宽恒导磁电感铁芯、PFC电感铁芯；

中频变压器铁芯、配电变压器铁芯；

数码电子用非晶电磁屏蔽箔片。

非晶带材的质量和应用效果主要有两个关键指标，叠片系数和厚度。

叠片系数简单地说就是变压器叠片铁芯的有效面积系数，叠片系数越高，铁芯的有效面积越大，使磁通密度减少，损耗降低。在制造过程中，硅钢片搭片、错片、毛刺、弯曲等缺陷会导致叠片系数降低，从而导致变压器性能降低，严重的如过大的毛刺会使片间短路，铁心的涡流损耗增加。

非晶带材厚度一般在20μm-30μm，叠片时厚度偏差的放大效应更明显，导致叠片系数低，因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。另外，按照国家标准GB/T 19345-2003非晶纳米晶软磁合金带材的规定，非晶带材厚度偏差为同一炉带材沿长度方向的厚度的±10%以内，在宽度方向的厚度偏差应在±2μm。

测试仪器

济南西奥机电有限公司 测厚仪 FTT-02

试样准备

试样应无折皱，明显翘起等缺陷。

试样的制取和数量根据测试要求确定。

实验步骤

1.将准备好的试样固定在测试台上，点击气动夹持试样按钮，夹紧试样。

2.操作触摸屏，点击实验进入参数设置界面，设置测量时间，每个测试点间距，测试点数参数。

3.操作触摸屏，点击实验按钮，仪器自动根据设置的参数进行测量，并显示*终厚度和叠片系数的测试结果。

以上为济南西奥机电有限公司根据非晶带材客户相关资料进行整理和总结，仪器可以按照客户的不同要求进行定制，满足客户个性化的测试需求。

非晶带材叠片系数和厚度测试自动进样测厚仪FTT-01